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寸法検出のための測定技術

マイクロepsilon0414エレクトロニカホールB1、ブース325

と "ギャップコントロール「セットアップソフトウェア2.0 stellt マイクロイプシロン ギャップ測定用に特別に開発されたものの簡単なパラメーター化と測定値分析のための新しいツール Gap Controlレーザープロファイルスキャナー 前に。 ソフトウェアを使用して、すべての設定がセンサーで行われ、ギャップ測定タスクがパラメーター化されます。 最新バージョンでは、最も複雑なギャップ測定でもマッピングする可能性を制限することなく操作を簡素化するために特に注意が払われています。


Für einfache Messungen wurden neue Modi geschaffen, bei denen die Messaufgaben mit wenigen Mausklicks fertig eingestellt werden können. Für komplexere Aufgaben kann der Anwender mit dem Button „Switch to Advanced“ zu weiteren Einstellungen mit deutlich mehr Parametrierungsmöglichkeiten wechseln.

Eine weitere Neuerung ist das Analysetool „Result Monitor“. Im Livebetrieb oder in aufgezeichneten Profilen wird dieses genutzt, um den Messwertverlauf über die Zeit zu betrachten und zu bewerten. Dazu steht beispielsweise neben einer Mittelwertbetrachtung auch eine cgm-Analyse (capability gauge measurement = Messmittelfähigkeitsindex) zur Verfügung.


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