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見つけます 測定 のために 光学 測定用 光学パラメータ 表面、アンダーカット、厚さ測定、マイクロマシニングなどの機械生産結果、実験室での色と光沢、生産現場でのアプリケーションの品質保証など 自動車産業、の 機械工学 およびその他の産業部門。 光電子センサー、分光光度計、内視鏡、パイロメーター、カラーセンサー、レーザーシステムなど、nm、µm、mmの範囲の測定に使用されます。 優れた測定機器とその適切な校正は、 品質保証.

このカテゴリでは、以下を決定するための最新の開発について報告します。 光学測定 -製品の品質を確保してください!

光学測定用の最新の測定技術

Baumer、Micro-Epsilon、Pepperl + Fuchsなど

  • 制御干渉法は、表面を高精度で測定する場合の光学測定方法の最初の選択肢です。 Nortus Optronicは、新しいDifrotec D7干渉計を今までにない精度で提供しています。 測定された形状と実際の形状の差は、ラムダ/ 1000(<0,6 nm)未満です。
  • 制御生産における不良率を下げるには、プロセスを継続的に監視する必要があります。 Colorliteは、XNUMX%色測定用のSPH IPM分光光度計を開発しました。 高い測定安定性と精度のおかげで、複雑な実験室分析を省略できます。 コンパクトで強力な色測定システムが指定された許容範囲外の色偏差を検出すると、すぐに情報がプロセス制御システムに送信されます。
  • 制御板金成形や射出成形などの一般的な成形プロセスにより、コンポーネント測定中に目標仕様からの逸脱が生じます。 このようなプラスチックおよびシートメタルコンポーネントの測定は、多くの場合複雑であり、多大な労力と高いコストがかかります。 測定中にこれらの偏差を補正し、設置状況をシミュレートするために、以前はコンポーネントを複雑な測定デバイスに固定する必要がありました。 GOMは、新たに開発された仮想クランプ技術により、この測定プロセスを大幅に簡素化できるようになりました。
  • Micro-Epsilonの「Confocal DT IFS2407-3」距離および厚さ計は、表面測定時に最高の精度を提供します。 変位および厚さ測定用のこの共焦点センサーは、±30度の最大傾斜角で機能します。 そのため、曲面でも安定した測定信号が得られ、高精度の結果が出力されます。 共焦点色彩センサーは、光学測定技術において最も要求の厳しい測定システムです。
  • バックグラウンド抑制を備えたBaumer O200拡散センサーは、限られた機械室で特に信頼性が高く高速です。 製造業者によると、機能的予備の増加により、現在、120 mmのユニークな範囲でクラス最高です。
  • コントロールホール7、ブース7102生産またはワークショップマネージャーはジレンマを知っています。ワークピースの表面パラメーターを迅速かつ迅速に測定する必要があり、測定室が遠すぎたり、占有されたりしています。 この目的のために、Accretechは「Handysurf」製品シリーズから携帯型表面測定装置をさらに開発しました。
  • コントロールホール4、ブース4514 3plusplusは、アンダーカットの非接触テスト用のソフトウェアを開発しました。 顧客の要件に応じて、光学プロファイルセンサーは生産ラインまたはライン外のデバイスに直接統合されます。 既存のシステムも改造できます。
  • コントロールホール7、スタンド7409 FRTは、第200世代のスタンドアロン計測デバイス「Microprof 20」を非常に安定したプラットフォームとして提供します。 ハイブリッド測定技術と組み合わせたマルチセンサーのコンセプトは、世界中の生産ラインをサポートしています。
  • 「AGV-SPO」により、Aerotechは新しい高性能ガルボスキャナーを提供します。 従来の2Dスキャナーよりも広い視野を提供し、レーザースポットの歪みを低減し、ミラー表面の幅広い選択により、さまざまなレーザー波長に柔軟に使用できます。 その結果、レーザースキャナーは、積層造形から医療技術まで、非常に幅広いアプリケーションを提供します。
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